植物冠層分析儀如何測量葉面積指數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)： Airphen

所屬分類：機(jī)載型植物冠層分析儀

更新時(shí)間：2018-07-04

簡要描述：植物冠層分析儀如何測量葉面積指數(shù)，測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù)，計(jì)算出冠層的有效LAI，結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當(dāng)?shù)刈游缇€的夾角。

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植物冠層分析儀如何測量葉面積指數(shù)

    測量時(shí)根據(jù)果園的大小。分別設(shè)置3-5個(gè)測量點(diǎn)，在每個(gè)測量點(diǎn)再分別用方框取樣法和冠層分析法測量葉面積指數(shù)。方框取樣法是將方框隨機(jī)放在樹冠上，將方框內(nèi)的的葉片全部摘下，用葉面積儀測量框內(nèi)的葉面積，然后根據(jù)樹冠體積和栽植密度計(jì)算葉面積指數(shù)。測點(diǎn)的選擇與冠層分析儀方法相同。冠層分析儀是分別對應(yīng)測量天空5個(gè)范圍的散射輻射，這5個(gè)范圍的中心視天頂角分別為7°、23°、38°、53°和68°，分別與冠層上部和下部測量輻射通透密度，并根據(jù)轉(zhuǎn)換模型估算葉面積指數(shù)。在每一個(gè)測點(diǎn)的冠層頂部測一次，下部重復(fù)測量6-10次，冠層下方的測量在同一水平面上，且在無直接輻射的條件下進(jìn)行。為了避免光環(huán)境迅速的變化對測量結(jié)果的影響，選擇無直接輻射的條件下進(jìn)行，然后用冠層分析儀附帶的軟件對測量的資料進(jìn)一步加工以校正估值葉面積指數(shù)。

植物冠層分析儀特點(diǎn)

    *兩輪設(shè)計(jì)便于野外快速、輕松獲取數(shù)據(jù)

    用戶友好接口、適合大區(qū)實(shí)驗(yàn)

    多角度測量降低直接光照影響

    GPS和羅盤精確定位測量

植物冠層分析儀優(yōu)勢

    1、Airphen植物冠層分析儀配有6個(gè)波段：450-900nm（450nm，530nm，570nm，675nm，730nm，850nm），可測量多達(dá)幾十種植被指數(shù)；采用雙視場角設(shè)計(jì)，極大提升了科研調(diào)查效率，而上其他品牌的產(chǎn)品不具備雙視場角，調(diào)查效率是很有限的。

    2、Airphen植物冠層分析儀具有的強(qiáng)大的散熱系統(tǒng)能保證產(chǎn)品在運(yùn)行過程中的穩(wěn)定性，而其他品牌不具備強(qiáng)大的散熱系統(tǒng)，所以其產(chǎn)品的運(yùn)行穩(wěn)定性是有待考量的。

    3、Airphen植物冠層分析儀專門針對大疆無人機(jī)開發(fā)了云臺(tái)，可保護(hù)相機(jī)系統(tǒng)的安全使用以及減少相機(jī)拍攝的晃動(dòng)。

    4、Airphen植物冠層分析儀可集成同步RGB相機(jī)和熱成像相機(jī)，解決了紅外成像無法精確定位的難題，所獲得數(shù)據(jù)可用于數(shù)字高程等系列研究，應(yīng)用于近地遙感地理勘測、環(huán)境調(diào)查、農(nóng)業(yè)表型、精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)、生態(tài)研究等領(lǐng)域。

    5、針對Airphen植物冠層分析儀系統(tǒng)在Agisoft的基礎(chǔ)上開發(fā)了的圖像處理插件，使后期的圖像處理更加簡單化，其他品牌是不具備的。

    6、通過連接手機(jī)進(jìn)入控制客戶端，操作簡單方便，后期的圖像數(shù)據(jù)處理在云端處理器完成，無須軟件操作就可得到想要的數(shù)據(jù)。

    7、我們的多光譜相機(jī)配套的參考板材質(zhì)不怕磨損，不屬于易損耗品，而其他品牌的參考板均屬于易耗品，增加了后期使用過程中的成本。

植物冠層分析儀介紹

    植物冠層分析儀就是屬于光學(xué)法的，特點(diǎn)是攜帶方便，不需要進(jìn)行額外的資料處理，可以直接給出葉面積指數(shù)值，原理是在假定植物冠層內(nèi)的各元素隨機(jī)分布，依據(jù)冠層間隙度或光學(xué)特性反演葉面積指數(shù)。缺點(diǎn)是測量所得葉面積指數(shù)有著較大的偏差。葉片的聚集效應(yīng)越強(qiáng)，偏差越大。因此在測量時(shí)，一般需要用直接法校正。